Andrey Orekhov
- Последняя известная организация:
- A.V. Shubnikov Institute of Crystallography
- ORCID:
- 0000-0002-7517-5484
4
h-индекс
1
i10-индекс
50
Цитирования
15
Работы
Динамика
Показатели по годам
Обзор цитирований
Публикации (столбцы) и цитирования (линия) по годам
- Публикации
- Цитирования
История цитирований
История публикаций
Эволюция h-индекса
Накопительный h-индекс по годам
Наиболее цитируемые работы
- The Influence of Structural Defects in Silicon on the Formation of Photosensitive Mn4Si7–Si❬Mn❭–Mn4Si7 and Mn4Si7–Si❬Mn❭–M Heterostructures201921 цит.
- Electron microscopy characterization of higher manganese silicide film structure on silicon20167 цит.
- Structure of thermoelectric films of higher manganese silicide on silicon according to electron microscopy data20175 цит.
- Mn4Si7-Si〈Mn〉-Mn4Si7 and Mn4Si7-Si〈Mn〉-M photodiodes20114 цит.
- Influence of structural defects in silicon on formation of photosensitive heterostructures Mn4Si7-Si-Mn4Si7 and Mn4Si7-Si-M20183 цит.
- About the mechanism of formation and growth of the higher manganese silicide films on silicon20053 цит.
- On the growth of higher manganese silicide films on silicon20102 цит.
- Investigation of the Magnesium Silicide -- Mg<sub>2</sub>Si Films20060 цит.
- About the Interface Between the Higher Manganese Silicide Film and Si (111)20060 цит.
- Overgrowth of the Mn4Si7 phase on/around the hexagonal SiC and cubic MnSi impurity phases in the Mn4Si7/Si films20080 цит.