Перейти к содержимому
AkademScholar

Продукты

Для разработчиков

AkademBaseскороAPI для разработчиков
Авторы

Shakhrukh Kh. Daliev

Варианты имени: Sh.Kh. Daliev

Последняя известная организация:
National University of Uzbekistan
ORCID:
0000-0001-7853-2777
4
h-индекс
1
i10-индекс
51
Цитирования
24
Работы
Динамика

Показатели по годам

Обзор цитирований

Публикации (столбцы) и цитирования (линия) по годам

  • Публикации
  • Цитирования
0358100613192520042006201820202021202220232024202520262004: Публикации 1, Цитирования 02006: Публикации 2, Цитирования 02018: Публикации 1, Цитирования 02020: Публикации 2, Цитирования 02021: Публикации 1, Цитирования 22022: Публикации 2, Цитирования 12023: Публикации 5, Цитирования 122024: Публикации 4, Цитирования 252025: Публикации 6, Цитирования 72026: Публикации 0, Цитирования 4

История цитирований

0613192520042006201820202021202220232024202520262004: Цитирования 02006: Цитирования 02018: Цитирования 02020: Цитирования 02021: Цитирования 22022: Цитирования 12023: Цитирования 122024: Цитирования 252025: Цитирования 72026: Цитирования 4

История публикаций

03581020042006201820202021202220232024202520262004: Публикации 12006: Публикации 22018: Публикации 12020: Публикации 22021: Публикации 12022: Публикации 22023: Публикации 52024: Публикации 42025: Публикации 62026: Публикации 0

Эволюция h-индекса

Накопительный h-индекс по годам

0134520042006201820202021202220232024202520262004: h-индекс 02006: h-индекс 02018: h-индекс 02020: h-индекс 02021: h-индекс 12022: h-индекс 12023: h-индекс 22024: h-индекс 32025: h-индекс 42026: h-индекс 4

Наиболее цитируемые работы

  1. Effect of the Diffusion of Copper Atoms in Polycrystalline CdTe Films Doped with Pb Atoms202312 цит.
  2. Features of the behavior of lanthanum and hafnium atoms in silicon20069 цит.
  3. Investigation of Defect Formation in Silicon Doped with Silver and Gadolinium Impurities by Raman Scattering Spectroscopy20238 цит.
  4. Research of the Impact of Silicon Doping with Holmium on its Structure and Properties Using Raman Scattering Spectroscopy Methods20245 цит.
  5. PROCESSES OF DEFECT FORMATION IN SILICON DIFFUSIONALLY DOPED WITH PLATINUM AND IRRADIATED WITH PROTONS20234 цит.
  6. On the Properties of the Si-SiO2 Transition Layer in Multilayer Silicon Structures20233 цит.
  7. Capacitive Spectroscopy of Deep Levels in Silicon with Samarium Impurity20232 цит.
  8. Raman Spectroscopy of Gamma-Irradiated Silicon Doped with Rhodium20252 цит.
  9. Deep Level Transient Spectroscopy of Silicon, Doped by Zirconium20181 цит.
  10. Energy Spectrum of Defective Centers in Silicon Doped with Molybdenum20201 цит.