Перейти к содержимому
AkademScholar

Продукты

Для разработчиков

AkademBaseскороAPI для разработчиков
Авторы

K.T. Dovranov

Последняя известная организация:
Karshi State University
5
h-индекс
0
i10-индекс
38
Цитирования
14
Работы
Динамика

Показатели по годам

Обзор цитирований

Публикации (столбцы) и цитирования (линия) по годам

  • Публикации
  • Цитирования
03581001325385020232024202520262023: Публикации 4, Цитирования 02024: Публикации 7, Цитирования 262025: Публикации 3, Цитирования 112026: Публикации 0, Цитирования 1

История цитирований

01325385020232024202520262023: Цитирования 02024: Цитирования 262025: Цитирования 112026: Цитирования 1

История публикаций

03581020232024202520262023: Публикации 42024: Публикации 72025: Публикации 32026: Публикации 0

Эволюция h-индекса

Накопительный h-индекс по годам

0134520232024202520262023: h-индекс 02024: h-индекс 42025: h-индекс 52026: h-индекс 5

Наиболее цитируемые работы

  1. Formation of thin Crsi <sub>2</sub> films by the solid-phase ion-plasma method and their thermoelectric properties20249 цит.
  2. Formation of Mn4Si7/Si(111), CrSi2/Si(111), and CoSi2/Si(111) Thin Film and Evaluation of Their Optically Direct and Indirect Band Gap20246 цит.
  3. Peculiarities of BaTiO<sub>3</sub> in electronic and X-Ray analysis20236 цит.
  4. The solid-phase ion-plasma method and thermoelectric properties of thin CrSi2 films20246 цит.
  5. Development of Technology for Obtaining Nanosized Heterostructured Films by Ion-Plasma Deposition20235 цит.
  6. Preparation of Calcium Titanate Perovskite Compound, Optical and Structural Properties20242 цит.
  7. Raman and IR Spectrum Analysis of CrSi2 Thin Films Formed in Direct Current and Variable Frequency Modes of a Magnetron Sputtering Device20242 цит.
  8. Obtaining Thin Films from Semiconductor Compounds and Their X-Ray Analysis20242 цит.
  9. ELECTROPHYSICAL PROPERTIES OF NANOFILMS20230 цит.
  10. FTIR-АНАЛИЗ ТОНКИХ ПЛЕНОК КРЕМНИЯ И ОКСИДА КРЕМНИЯ20230 цит.