Перейти к содержимому
AkademScholar

Продукты

Для разработчиков

AkademBaseскороAPI для разработчиков
Авторы

М. К. Курбанов

Последняя известная организация:
Urgench State University
ORCID:
0000-0002-0430-041X
8
h-индекс
6
i10-индекс
115
Цитирования
22
Работы
Динамика

Показатели по годам

Обзор цитирований

Публикации (столбцы) и цитирования (линия) по годам

  • Публикации
  • Цитирования
03581001325385020132016201920202021202220232024202520262013: Публикации 1, Цитирования 02016: Публикации 1, Цитирования 12019: Публикации 0, Цитирования 32020: Публикации 0, Цитирования 22021: Публикации 3, Цитирования 82022: Публикации 3, Цитирования 112023: Публикации 4, Цитирования 112024: Публикации 4, Цитирования 322025: Публикации 6, Цитирования 442026: Публикации 0, Цитирования 3

История цитирований

01325385020132016201920202021202220232024202520262013: Цитирования 02016: Цитирования 12019: Цитирования 32020: Цитирования 22021: Цитирования 82022: Цитирования 112023: Цитирования 112024: Цитирования 322025: Цитирования 442026: Цитирования 3

История публикаций

03581020132016201920202021202220232024202520262013: Публикации 12016: Публикации 12019: Публикации 02020: Публикации 02021: Публикации 32022: Публикации 32023: Публикации 42024: Публикации 42025: Публикации 62026: Публикации 0

Эволюция h-индекса

Накопительный h-индекс по годам

03581020132016201920202021202220232024202520262013: h-индекс 02016: h-индекс 12019: h-индекс 22020: h-индекс 22021: h-индекс 22022: h-индекс 32023: h-индекс 42024: h-индекс 62025: h-индекс 82026: h-индекс 8

Наиболее цитируемые работы

  1. Procedure for determining defects in sputtered clusters of ionic crystals201614 цит.
  2. Comparison of electron irradiation on the formation of surface defects in situ and post thin-film LiF/Si(111) deposition202113 цит.
  3. Production of High-Coercive nanostructured Nd-Fe-B alloy by chemical method202412 цит.
  4. Kinetics of aggregations of F 2, F 3, X, and colloid centers in LiF/Si(111) films upon low-temperature annealing201311 цит.
  5. Controlling the Low-temperature Ionic Purification of a Silicon Surface by Electron Spectroscopy202111 цит.
  6. Comparative research fluorine and colloidal aggregate formation on the surface lithium fluoride thin films during electronic, ionic and thermal treatments202310 цит.
  7. Formation of defects on the surface of LiF crystals under irradiation with different ions mass20229 цит.
  8. Exploring electron energy dependencies in the formation of surface charge on ZnO crystals20248 цит.
  9. Influence of the irradiation of ions of different mass on the formation of surface defects of lithium fluoride thin films20226 цит.
  10. Influence of Doping with Rare Earth Elements on the Parameters of Silicon Photocells20226 цит.