Diffusion and defect data, solid state data. Part B, Solid state phenomena/Solid state phenomena
- ISSN:
- 1012-0394
0
h-индекс
0
Цитирования
28
Работы
Сигналы доверия
Присутствует 1 из 3 сигналовНезависимые положительные сигналы — не единый вердикт «хищнический/легитимный», а сходящаяся картина.
- DOAJНет данныхdoaj.org
- Список ВАК (OAK)Нет данныхOAK
- Действующий ISSNЕстьISSN
Это информационная пометка, а не официальное решение. Отсутствие сигнала — не штраф: например, региональный журнал может не быть в DOAJ.
Динамика
Показатели по годам
Обзор цитирований
Публикации (столбцы) и цитирования (линия) по годам
- Публикации
- Цитирования
История публикаций
Эволюция h-индекса
Накопительный h-индекс по годам
Наиболее цитируемые работы
- Distribution of Defects in InAs<sub>1-x-y</sub>Sb<sub>x</sub>P<sub>y</sub>-InAs DHs19910 цит.
- Nature of Defects in MOCVD Grown GaAlAs-GaAs QW DHs19910 цит.
- X-Ray Diffractometry and Topography of CdHgTe Bulk Crystals and CdHgTe-CdTe Epitaxial Structures19910 цит.
- New Applications of Diffraction Analysis for Dislocation Structure in High Lattice-Mismatch MBE Grown Epitaxial Structures19930 цит.
- Oxygen Gettering on Buried Layers at Post-Implantation Annealing of Hydrogen Implanted Czochralski Silicon19970 цит.
- Defect Formation during Erbium Implantation and Subsequent Annealing of Si:Er19970 цит.
- Defect Engineering in Si: Ho Light-Emitting Structure Technology19990 цит.
- Polarization Photosensitivity of Polycrystalline-Film Cu(In,Ga)Se<sub>2</sub>/CdS/ZnO Structures19990 цит.
- Relation Between Photoconductivity and Deposition Conditions of Evaporated CuInSe<sub>2</sub> Polycrystalline Thin Films19990 цит.
- Photoelectrical Properties of In/p-(Cu,Ag)(In,Ga) (Se,Te)<sub>2</sub> Surface-Barrier Structures19990 цит.