Физика и техника полупроводников
- ISSN:
- 0015-3222
2
h-индекс
11
Цитирования
16
Работы
Сигналы доверия
Присутствует 1 из 3 сигналовНезависимые положительные сигналы — не единый вердикт «хищнический/легитимный», а сходящаяся картина.
- DOAJНет данныхdoaj.org
- Список ВАК (OAK)Нет данныхOAK
- Действующий ISSNЕстьISSN
Это информационная пометка, а не официальное решение. Отсутствие сигнала — не штраф: например, региональный журнал может не быть в DOAJ.
Динамика
Показатели по годам
Обзор цитирований
Публикации (столбцы) и цитирования (линия) по годам
- Публикации
- Цитирования
История цитирований
История публикаций
Эволюция h-индекса
Накопительный h-индекс по годам
Наиболее цитируемые работы
- Effect of nickel on the lifetime of charge carriers in silicon solar cells20225 цит.
- Effect of the presence of a sufficiently high phosphorus concentration on the concentration distribution of gallium in silicon20222 цит.
- Features of the electrophysical parameters of silicon serially doped with impurity atoms of phosphorus and boron20221 цит.
- Polarization-spectral dependences of three-photon interband absorption of light and linear-circular dichroism in semiconductors with cubic symmetry20221 цит.
- Сравнительное исследование фотоэлементов на основе кремния, легированного никелем различными методами20221 цит.
- Comparative study of photocells based on silicon doped with nickel by various methods20221 цит.
- Эффект инжекционного обеднения в p-Si-n-(Si-=SUB=-2-=/SUB=-)-=SUB=-1-x-=/SUB=-(ZnSe)-=SUB=-x-=/SUB=- (0≤ x≤0.01) гетероструктуре20180 цит.
- Анизотропия отрицательного магнетосопротивления в эапитаксиальных слоях GaMnAs20200 цит.
- Размерное квантование в n-GaP20200 цит.
- Влияние одноосной упругой деформации на вольт-амперную характеристику поверхностно-барьерных диодов Sb-p-Si<Mn>-Au20200 цит.