SpringerBriefs in materials
- ISSN:
- 2192-1091
0
h-индекс
0
Цитирования
5
Работы
0.00
Ср. цитируемость за 2 года
Сигналы доверия
Присутствует 1 из 3 сигналовНезависимые положительные сигналы — не единый вердикт «хищнический/легитимный», а сходящаяся картина.
- DOAJНет данныхdoaj.org
- Список ВАК (OAK)Нет данныхOAK
- Действующий ISSNЕстьISSN
Это информационная пометка, а не официальное решение. Отсутствие сигнала — не штраф: например, региональный журнал может не быть в DOAJ.
Динамика
Показатели по годам
Обзор цитирований
Публикации (столбцы) и цитирования (линия) по годам
- Публикации
- Цитирования
История публикаций
Эволюция h-индекса
Накопительный h-индекс по годам
Наиболее цитируемые работы
- Measurement Technique and Experimental Facility20240 цит.
- Formation of Defects and Clusters on the Surface of ZnO Crystals Under Electron Irradiation20240 цит.
- Formation of Defects and Clusters on the Surface of LiF Crystals Under Electron and Ion Irradiation20240 цит.
- Formation of Defects and Clusters on the Surface of Crystals Si(111) And SiOx at Irradiation by Electrons and Ions20240 цит.
- Review of Experimental and Theoretical Works on Defect Formation in Wide-Gap Crystals20240 цит.