Journal of Surface Investigation X-ray Synchrotron and Neutron Techniques
- ISSN:
- 1027-4510
12
h-индекс
389
Цитирования
110
Работы
0.00
Ср. цитируемость за 2 года
Сигналы доверия
Присутствует 1 из 3 сигналовНезависимые положительные сигналы — не единый вердикт «хищнический/легитимный», а сходящаяся картина.
- DOAJНет данныхdoaj.org
- Список ВАК (OAK)Нет данныхOAK
- Действующий ISSNЕстьISSN
Это информационная пометка, а не официальное решение. Отсутствие сигнала — не штраф: например, региональный журнал может не быть в DOAJ.
Наиболее цитируемые работы
- Effect of Ar+-ion bombardment on the composition and structure of the surface of CoSi2/Si(111) nanofilms201523 цит.
- On the creation of ordered nuclei by ion bombardment for obtaining nanoscale si structures on the surface of CaF2 films201721 цит.
- On the synthesis of nanoscale phases of metal silicides in the near-surface region of silicon and the study of their electronic structures by passing light201721 цит.
- Formation and Electronic Structure of Barium-Monosilicide- and Barium-Disilicide Films202117 цит.
- Energy spectra of SiO2 nanofilms formed on a silicon surface by ion implantation201516 цит.
- Procedure for determining defects in sputtered clusters of ionic crystals201614 цит.
- Energy Threshold of the Atomic and Cluster Sputtering of Some Elements under Bombardment with Cs, Rb, and Na Ions201914 цит.
- Structure and electronic properties of nanoscale phases and nanofilms of metal silicides produced by ion implantation in combination with annealing201414 цит.
- Applying low-energy ion implantation in the creation of nanocontacts on the surface of ultrathin semiconductor films201314 цит.
- Effect of thermal and laser annealing on the atom distribution profiles in Si(111) implanted with P+ and B+ ions201712 цит.