2000 International Conference on Ion Implantation Technology Proceedings. Ion Implantation Technology - 2000 (Cat. No.00EX432)
1
h-индекс
1
Цитирования
6
Работы
Сигналы доверия
Присутствует 0 из 3 сигналовНезависимые положительные сигналы — не единый вердикт «хищнический/легитимный», а сходящаяся картина.
- DOAJНет данныхdoaj.org
- Список ВАК (OAK)Нет данныхOAK
- Действующий ISSNНет данныхISSN
Это информационная пометка, а не официальное решение. Отсутствие сигнала — не штраф: например, региональный журнал может не быть в DOAJ.
Динамика
Показатели по годам
Обзор цитирований
Публикации (столбцы) и цитирования (линия) по годам
- Публикации
- Цитирования
История цитирований
История публикаций
Эволюция h-индекса
Накопительный h-индекс по годам
Наиболее цитируемые работы
- The ion dechanneling mechanism at grazing scattering on the surface atomic steps20021 цит.
- Computer simulation of ion implantation at grazing ion-surface interactions20020 цит.
- Computer simulation of ion implantation with visual observation of the implantation profiles20020 цит.
- Computer simulation of ion implantation with visual observation of the implantation profiles20030 цит.
- The ion dechanneling mechanism at grazing scattering on the surface atomic steps20030 цит.
- Computer simulation of ion implantation at grazing ion-surface interactions20030 цит.