Diffusion Foundations and Materials Applications
- ISSN:
- 2674-029X
0
h-индекс
0
Цитирования
4
Работы
0.00
Ср. цитируемость за 2 года
Сигналы доверия
Присутствует 1 из 3 сигналовНезависимые положительные сигналы — не единый вердикт «хищнический/легитимный», а сходящаяся картина.
- DOAJНет данныхdoaj.org
- Список ВАК (OAK)Нет данныхOAK
- Действующий ISSNЕстьISSN
Это информационная пометка, а не официальное решение. Отсутствие сигнала — не штраф: например, региональный журнал может не быть в DOAJ.
Динамика
Показатели по годам
Обзор цитирований
Публикации (столбцы) и цитирования (линия) по годам
- Публикации
- Цитирования
История публикаций
Эволюция h-индекса
Накопительный h-индекс по годам
Наиболее цитируемые работы
- Enhanced Surface Defect Detection in Industrial Manufacturing Using Convolutional Neural Networks and Advanced Imaging Techniques20250 цит.
- Automated Surface Defect Detection in Machined Parts Using Deep Learning Techniques and Machine Vision20250 цит.
- Study of Trajectories Scattered Ar+ Ions from the CdTe(001) <110> at the Glancing Incidence20250 цит.
- Defect Detection, Aluminium-Based and Green Materials20250 цит.