Diffusion and defect data, solid state data. Part B, Solid state phenomena/Solid state phenomena
- ISSN:
- 1012-0394
0
h-индекс
0
Иқтибослар
28
Асарлар
Ишонч сигналлари
1 дан 3 сигнал мавжудМустақил ижобий сигналлар — ягона “предатор/қонуний” ҳукми эмас, балки яқинлашувчи тасвир.
- DOAJМаълумот йўқdoaj.org
- ОАК рўйхатиМаълумот йўқОАК
- Яроқли ISSNМавжудISSN
Бу ахборот ёрлиғи, расмий қарор эмас. Сигнал йўқлиги жазо эмас — масалан, минтақавий журнал DOAJ'да бўлмаслиги мумкин.
Вақт бўйича
Вақт бўйича таҳлил
Иқтибос шарҳи
Йиллар бўйича нашрлар (устун) ва иқтибослар (чизиқ)
- Нашрлар
- Иқтибослар
Нашр тарихи
h-индекс эволюцияси
Йиллар бўйича жамланган h-индекс
Энг кўп иқтибос қилинган асарлар
- Distribution of Defects in InAs<sub>1-x-y</sub>Sb<sub>x</sub>P<sub>y</sub>-InAs DHs19910 иқтибос
- Nature of Defects in MOCVD Grown GaAlAs-GaAs QW DHs19910 иқтибос
- X-Ray Diffractometry and Topography of CdHgTe Bulk Crystals and CdHgTe-CdTe Epitaxial Structures19910 иқтибос
- New Applications of Diffraction Analysis for Dislocation Structure in High Lattice-Mismatch MBE Grown Epitaxial Structures19930 иқтибос
- Oxygen Gettering on Buried Layers at Post-Implantation Annealing of Hydrogen Implanted Czochralski Silicon19970 иқтибос
- Defect Formation during Erbium Implantation and Subsequent Annealing of Si:Er19970 иқтибос
- Defect Engineering in Si: Ho Light-Emitting Structure Technology19990 иқтибос
- Polarization Photosensitivity of Polycrystalline-Film Cu(In,Ga)Se<sub>2</sub>/CdS/ZnO Structures19990 иқтибос
- Relation Between Photoconductivity and Deposition Conditions of Evaporated CuInSe<sub>2</sub> Polycrystalline Thin Films19990 иқтибос
- Photoelectrical Properties of In/p-(Cu,Ag)(In,Ga) (Se,Te)<sub>2</sub> Surface-Barrier Structures19990 иқтибос