Asosiy kontentga oʻtish
AkademScholar

Kashfiyot

Xizmatlar

Identifikatsiya

Ishlab chiquvchilar uchun

Ekotizim

Mualliflar

Ahmed Yusupov

Soʻnggi maʼlum muassasa:
Tashkent University of Information Technology
2
h-indeks
0
i10-indeksi
11
Iqtiboslar
13
Asarlar
Vaqt boʻyicha

Vaqt boʻyicha tahlil

Iqtibos sharhi

Yillar boʻyicha nashrlar (ustun) va iqtiboslar (chiziq)

  • Nashrlar
  • Iqtiboslar
013450358102020202120222023202420252020: Nashrlar 4, Iqtiboslar 02021: Nashrlar 1, Iqtiboslar 02022: Nashrlar 3, Iqtiboslar 32023: Nashrlar 1, Iqtiboslar 12024: Nashrlar 2, Iqtiboslar 12025: Nashrlar 2, Iqtiboslar 6

Iqtibos tarixi

0358102020202120222023202420252020: Iqtiboslar 02021: Iqtiboslar 02022: Iqtiboslar 32023: Iqtiboslar 12024: Iqtiboslar 12025: Iqtiboslar 6

Nashr tarixi

013452020202120222023202420252020: Nashrlar 42021: Nashrlar 12022: Nashrlar 32023: Nashrlar 12024: Nashrlar 22025: Nashrlar 2

h-indeks evolyutsiyasi

Yillar boʻyicha jamlangan h-indeks

0122020202120222023202420252020: h-indeks 02021: h-indeks 02022: h-indeks 12023: h-indeks 12024: h-indeks 12025: h-indeks 2

Eng koʻp iqtibos qilingan asarlar

  1. Lateral Capacitance–Voltage Method of NanoMOSFET for Detecting the Hot Carrier Injection20203 iqtibos
  2. On the Convergence of an Efficient and Robust Dynamic Neural Network Concept with Application to Solving Traveling Salesman Problems20222 iqtibos
  3. Impact of the channel shape, back oxide and gate oxide layers on self-heating in nanoscale JL FINFET20222 iqtibos
  4. Contribution to the Physical Modelling of Single Charged Defects Causing the Random Telegraph Noise in Junctionless FinFET20202 iqtibos
  5. Influence of the Gate Oxide and Back Oxide Material Types on Self-heating Effect in Junctionless FinFET20241 iqtibos
  6. Combined Influence of Gate Oxide and Back Oxide Materials on Self-Heating and DIBL Effect in 2D MOS2-Based MOSFETs20231 iqtibos
  7. The amplitude of RTN in nanometer SOI FinFET with different channel shape20200 iqtibos
  8. Formation and electrical properties of anisotype heterojunctions p-Cu2ZnSnSe4 /n-GaAs20200 iqtibos
  9. Amplitude of Random Telegraph Noise in Junctionless FinFET with Different Channel Shape20210 iqtibos
  10. Capacitance Method for Identifying Degradation due to Electrical Stress in MOSFETs20220 iqtibos

Hammualliflar

  1. Jean Chamberlain Chedjou9 ta umumiy asar2020–2024
  2. A. É. Atamuratov7 ta umumiy asar2020–2024
  3. Kyandoghere Kyamakya6 ta umumiy asar2020–2022
  4. M. M. Khalilloev5 ta umumiy asar2020–2024
  5. Elaman Nurullaev2 ta umumiy asar2025
  6. K. Sattarov2 ta umumiy asar2025
  7. B. O. Jabbarova2 ta umumiy asar2024
  8. K. Sivasankaran2 ta umumiy asar2022–2024
  9. Zamira Atamuratova2 ta umumiy asar2020–2022
  10. Antonio Di Bartolomeo1 ta umumiy asar2025

Barcha hammualliflar →

AkademIndex'da koʻrish →